在實(shí)踐中，納米粒度儀用于確定粒徑的各種測(cè)試方法，除了顯微鏡和全息術(shù)之外，不觀察單個(gè)粒子，而是確定粒子系統(tǒng)的粒度相關(guān)性質(zhì)，然后計(jì)算第一章粉末。材料的粒度和測(cè)量的基礎(chǔ)粒度值。即使在微觀和全息方法中，單個(gè)理論定義也不用于觀察單個(gè)粒子，并且直接使用一些人工定義的等效直徑。為了表征顆粒的尺寸，通常使用等效的顆粒尺寸，也稱為等效顆粒尺寸。當(dāng)顆粒具有與均勻球體相同的特性時(shí)，顆粒的等效顆粒尺寸是指假定相同的球體直徑。對(duì)于不規(guī)則形狀的顆粒，其顆粒尺寸是測(cè)量方向的函數(shù)，并且是物理測(cè)量方法的函數(shù)，因此在不同條件下以不同方式測(cè)量相同顆粒并且測(cè)量的顆粒尺寸值不同。由于大多數(shù)顆粒的形狀是不規(guī)則的，因此可能非常復(fù)雜。  

納米粒度儀在實(shí)際應(yīng)用中，難以精確測(cè)量它們的粒徑，并且“粒度值”的“一維參數(shù)”用于描述不規(guī)則粒子的大小。它本身非常粗糙和不準(zhǔn)確，因此一些學(xué)者提出“在粒度測(cè)量中，如果粒子形狀是非球形的，那么粒子沒有真正的粒徑，也就是說(shuō)，被測(cè)物體沒有真實(shí)的價(jià)值。粒度分布在工業(yè)生產(chǎn)中，遇到大量處于整體狀態(tài)的粒子系統(tǒng)。粒度測(cè)量工作是對(duì)大量粒子的統(tǒng)計(jì)研究，即測(cè)量粒子系統(tǒng)的粒度分布。粒度分布是指粒子系統(tǒng)中系統(tǒng)中不同尺寸的粒子的比例。根據(jù)測(cè)量?jī)x器和研究，粒度分布具有不同的表達(dá)，例如重量的比率或頻率，粒子的體積或數(shù)量相對(duì)于粒子的粒徑等。通常有三種表示：數(shù)量形成。1.2.3顆粒尺寸的簡(jiǎn)單表征-特征顆粒尺寸顆粒尺寸分布可以完整和詳細(xì)的方式描述粉末樣品的顆粒尺寸。